International Biometric Performance Testing Conference, 2-4 marca 2010 Drukuj E-mail
IBPC 2010
      NIST, NPL and Fraunhofer IGD zapraszają na konferencję poświęconą skuteczności i testowaniu systemów biometrycznych. Na konferencji użytkownicy, integratorzy i dostawcy technologi biometrycznych będą dyskutować istotne aspekty rozwiązań wykorzystujących technologie biometryczne. Szczególny nacisk będzie położony na sposoby testowania certyfikowania tego typu rozwiązań.
Data: 2-4 marca 2010
Miejsce: Gaithersburg, MD, USA
Strona konferencji: http://biometrics.nist.gov/ibpc2010/
Agenda konferencji: http://biometrics.nist.gov/ibpc2010/ibpc2010_schedule07.pdf